物位檢測工作(zuo)原理及分類

物(wu)位基(ji)本(ben)原(yuan)理

　　物(wu)(wu)位(wei)(wei)(wei)是指存放在容器或(huo)(huo)工業設備(bei)中物(wu)(wu)質的高度和位(wei)(wei)(wei)置。如液(ye)(ye)體(ti)(ti)介質液(ye)(ye)面的高低稱為(wei)液(ye)(ye)位(wei)(wei)(wei)；液(ye)(ye)體(ti)(ti)－液(ye)(ye)體(ti)(ti)或(huo)(huo)液(ye)(ye)體(ti)(ti)固體(ti)(ti)的分(fen)界面成(cheng)為(wei)界位(wei)(wei)(wei)；固體(ti)(ti)粉末(mo)或(huo)(huo)顆粒狀物(wu)(wu)質的堆積高度成(cheng)為(wei)料位(wei)(wei)(wei)。液(ye)(ye)位(wei)(wei)(wei)、界位(wei)(wei)(wei)及料位(wei)(wei)(wei)統稱為(wei)物(wu)(wu)位(wei)(wei)(wei)測(ce)量。

物位(wei)檢測(ce)分類方法

　　測量液位(wei)(wei)、界(jie)位(wei)(wei)或(huo)料位(wei)(wei)的儀表(biao)稱為物位(wei)(wei)計。根據測量對象的不同(tong)，可分為液位(wei)(wei)計、界(jie)位(wei)(wei)計及(ji)料位(wei)(wei)計。

　　根據測(ce)(ce)量原理的不(bu)同，可(ke)分(fen)為：靜壓式物(wu)(wu)位(wei)檢(jian)測(ce)(ce)、浮力(li)式物(wu)(wu)位(wei)檢(jian)測(ce)(ce)、電學式物(wu)(wu)位(wei)檢(jian)測(ce)(ce)、聲學式物(wu)(wu)位(wei)檢(jian)測(ce)(ce)、射線(xian)式物(wu)(wu)位(wei)檢(jian)測(ce)(ce)、雷(lei)達式物(wu)(wu)位(wei)檢(jian)測(ce)(ce)等。

　　按照與被測(ce)(ce)介質接(jie)(jie)觸(chu)(chu)與否分(fen)為：接(jie)(jie)觸(chu)(chu)式(shi)物(wu)位(wei)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)和(he)非接(jie)(jie)觸(chu)(chu)式(shi)物(wu)位(wei)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)。靜壓式(shi)物(wu)位(wei)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)、浮力式(shi)物(wu)位(wei)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)、電學式(shi)物(wu)位(wei)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)屬于(yu)(yu)接(jie)(jie)觸(chu)(chu)式(shi)物(wu)位(wei)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)；聲學式(shi)物(wu)位(wei)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)、射(she)線式(shi)物(wu)位(wei)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)、雷達式(shi)物(wu)位(wei)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)屬于(yu)(yu)非接(jie)(jie)觸(chu)(chu)式(shi)物(wu)位(wei)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)。